概要：一、单选[共5题，每题1分，总计5分]1、一种电子元件的正常寿命服从λ=0.1的指数分布，则这个电子元件可用时间在100小时之内的概率为（ ）。 A．99.95% B．99.85% C．99.05% D．99.99% 2、随机变量X的平均值为5，标准差也为5，随机变量Y的均值为9，方差为16，则V＝2X+3Y的均值与方差为（ ）。 A．37，164 B．37，244 C．22，164 D．22，244 3、下列不是用来描述样本集中位置的统计量的是（ ）。 A．样本均值 B．样本中位数 C．样本众数 D．样本标准差 4、判定点估计优良性的标准有（ ）。 A．简易性与准确性 B．准确性与有效性 C．无偏性与有效性 D．无偏性与简易性 5、已知X服从指数分布Exp(λ)，其概率密度函数为：P(X)=λe-λX，X≥0 在λ=0.1情况下，P(5≤X≤20)＝（ ）。 A．0.1353 B．0.6065 C．0.4712 D．0.7418 6、正态方差σ2的无偏估计是（ ）。 A． B． C． D． 7、以下字母不是常用来表示随机变量
2017年质量专业理论与实务（中级）[4],标签：质量工程师考试真题,质量工程师考试试题及答案,http://www.67jx.com一、单选[共5题，每题1分，总计5分]
1、一种电子元件的正常寿命服从λ=0.1的指数分布，则这个电子元件可用时间在100小时之内的概率为（ ）。
A．99.95%
B．99.85%
C．99.05%
D．99.99%
2、随机变量X的平均值为5，标准差也为5，随机变量Y的均值为9，方差为16，则V＝2X+3Y的均值与方差为（ ）。
A．37，164
B．37，244
C．22，164
D．22，244
3、下列不是用来描述样本集中位置的统计量的是（ ）。
A．样本均值
B．样本中位数
C．样本众数
D．样本标准差
4、判定点估计优良性的标准有（ ）。
A．简易性与准确性
B．准确性与有效性
C．无偏性与有效性
D．无偏性与简易性
5、已知X服从指数分布Exp(λ)，其概率密度函数为：P(X)=λe-λX，X≥0
在λ=0.1情况下，P(5≤X≤20)＝（ ）。
A．0.1353
B．0.6065
C．0.4712
D．0.7418
6、正态方差σ2的无偏估计是（ ）。
A．
B．
C．
D．
7、以下字母不是常用来表示随机变量的是（ ）。
A．X
B．Y
C．Z
D．y
8、当分布在散布图上的点可能毫无规律，不过也不能完全否定这些点表示的变量间存在某种曲线的趋势，此时相关系数（ ）。
A．r=0
B．r＝±1
C．r＞0
D．r＜0
9、对于曲线回归方程的比较，以下不属于其常用到的准则的是（ ）。
A．要求相关指数R大
B．要求残差平方和小
C．要求标准残差S小
D．要求决定系数小
10、某车间从生产线上随机1000个零件进行检验，发现5个产品有A类不合格；4个产品有B类不合格；2个产品既有A类又有B类不合格；3个产品既有B类又有C类不合格；5个产品有C类不合格，则该批产品中各类不合格数和不合格品数的计算正确的是（ ）。
A．A类不合格：7 A类不合格品：7
B．B类不合格：8 B类不合格品：7
C．C类不合格：8 C类不合格品：6
D．合计不合格数：23 合计不合格品数：20
11、二项分布计算法的公式是（ ）。
A．
B．
C．
D．
12、对一批轴承用的钢球10万个进行外观检验，采用(100，15)的抽检方案，当p=10%时Pa为（ ）。
A．0.951
B．0.851
C．0.751
D．0.651
13、计数调整型加严检验设计的主要目的是（ ）。
A．提高对生产方交检批的质量要求
B．保护使用方利益
C．扩大生产方的生产能力
D．检索抽样方案
14、某产品有5个质量特性，根据其重要程度不同分为A、B、C三类不合格，若对批量N=2000 件进行全数检验，发展5个产品有不合格项，结果如下：
产品编号 A类不合格数 B类不合格数 C类不合格数
3 1 0 2 www.67jx.com
7 0 1 1
12 1 1 0
19 0 1 2
20 0 0 3
则：其中C类不合格品数为（ ）。
A．1
B．2
C．3
D．4
15、设电阻规范下限为95Ω，规范上限为105Ω，过程能力指数为（ ）。
A．3/5
B．5/6
C．6/5
D．5/3
16、对于双侧公差情况下，过程能力指数的公式是（ ）。
A．CP= =
B．CPU=
C．CPL=
D．CP=
17、产品可靠性与（ ）无关。
A．规定时间
B．规定条件
C．规定功能
D．规定维修
18、（ ）是产品的可靠性、维修性和维修保障的综合反映。
A．使用可用性
B．固有可用性
C．基本可靠性
D．任务可靠性
19、平均修复时间表达式为（ ）。
A．MTTR=
B．MTTR=
C．MTTR=
D．MTTR=
20、元器件计数法适用于产品设计开发的（ ）。
A．早期
B．中期
C．详细设计期
D．定稿期
21、对可靠性实验叙述错误的是（ ）。